架空線路和站用瓷絕緣子的試驗(yàn)項(xiàng)目、周期和要求
架空線路和站用瓷絕緣子的試驗(yàn)項(xiàng)目、周期和要求
試驗(yàn)項(xiàng)目
低（零）值絕緣子檢測(cè)
試驗(yàn)周期
1） 投運(yùn)后3年內(nèi)應(yīng)普測(cè)1次；
2）按年均劣化率調(diào)整檢測(cè)周期，當(dāng)年均劣化率＜0.005%,檢測(cè)周期為5?6年；當(dāng)年均劣化率為0.005%? 0.01%,檢測(cè)周期為4~5年；當(dāng)年均劣化率＞0.01%,檢測(cè)周期為3年；
3）必要時(shí)。
試驗(yàn)結(jié)果判斷依據(jù)
1）盤形懸式瓷絕緣子和10kV?35kV針式瓷絕緣子所測(cè)的絕緣電阻小于500MQ為低（零）值絕緣子；
2）所測(cè)低（零）值絕緣子年均劣化率大于0.02%時(shí)，應(yīng)分析原因，并逐只進(jìn)行干工頻耐受電壓試驗(yàn)。
試驗(yàn)方法及說明
1）項(xiàng)1應(yīng)采用不小于5000V 的兆歐表；
2）項(xiàng)目2、項(xiàng)目3依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)DL/T626；
3）測(cè)量電壓分布（或火花間隙）依據(jù)《帶電作業(yè)用火花間隙檢測(cè)裝置》DL/T415；
4）對(duì)于投運(yùn)3年內(nèi)年均劣化率大于0.04%, 2年后檢測(cè)周期內(nèi)年均劣化率大于0.02% ,或年劣化率大于0.1%的絕緣子，或機(jī)械性能明顯下降的絕緣子，應(yīng)分析原因，并采取相應(yīng)措施。
試驗(yàn)項(xiàng)目
干工頻耐受電壓試驗(yàn)
試驗(yàn)周期
1）投運(yùn)后3年內(nèi)應(yīng)普測(cè)1次；
2）按年均劣化率調(diào)整檢測(cè)周期，當(dāng)年均劣化率＜0.005%,檢測(cè)周期為5?6年；當(dāng)年均劣化率為0.005%? 0.01%,檢測(cè)周期為4~5年；當(dāng)年均劣化率＞0.01%,檢測(cè)周期為3年；
3）必要時(shí)。
試驗(yàn)結(jié)果判斷依據(jù)1）盤形懸式瓷絕緣子應(yīng)施加60kV；
2）對(duì)大盤徑防污型絕緣子，施加對(duì)應(yīng)普通型絕緣子干工頻閃絡(luò)電壓值；
3）對(duì)10kV、35kV針式瓷絕緣子交流耐壓試驗(yàn)電壓值分別為42kV及100kV。
測(cè)量電壓分布（或火花間隙）
試驗(yàn)周期
1） 投運(yùn)后3年內(nèi)應(yīng)普測(cè)1次；
2）按年均劣化率調(diào)整檢測(cè)周期，當(dāng)年均劣化率＜0.005%,檢測(cè)周期為5?6年；當(dāng)年均劣化率為0.005%? 0.01%,檢測(cè)周期為4~5年；當(dāng)年均劣化率＞0.01%,檢測(cè)周期為3年；
試驗(yàn)結(jié)果判斷依據(jù)1） 被測(cè)絕緣子電壓值低于50%標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定值，判為劣化絕緣子；
2） 被測(cè)絕緣子電壓值高于50%的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定值，同時(shí)明顯低于相鄰兩側(cè)合格絕緣子的電壓值，判為劣化絕緣子；
3）在規(guī)定火花間隙距離和放電電壓下未放電，判為劣化絕緣子。
試驗(yàn)項(xiàng)目
外觀檢查
試驗(yàn)周期
必要時(shí)
試驗(yàn)結(jié)果判斷依據(jù)
瓷件出現(xiàn)裂紋、破損，釉面缺損或灼傷嚴(yán)重，水泥膠合劑嚴(yán)重脫落，鐵帽、鋼腳嚴(yán)重銹蝕等判為劣化絕緣子。
試驗(yàn)項(xiàng)目
機(jī)電破壞負(fù)荷試驗(yàn)
試驗(yàn)周期
必要時(shí)
試驗(yàn)結(jié)果判斷依據(jù)
當(dāng)機(jī)電破壞負(fù)荷低于85%額定機(jī)械負(fù)荷時(shí)，則判該只絕緣子為劣化絕緣子
試驗(yàn)項(xiàng)目
絕緣子現(xiàn)場(chǎng)污穢度（SPS）測(cè)量
試驗(yàn)周期
1）連續(xù)積污3年?6年
2）必要時(shí)試驗(yàn)結(jié)果判斷依據(jù)
進(jìn)行等值附鹽密度（ESDD）及不溶沉積物密度（NSDD）測(cè)量，得出現(xiàn)場(chǎng)污穢度（SPS），為連續(xù)積污3?5年后開始測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)污穢度所測(cè)到的ESDD或NSDD最大值。必要時(shí)可延長積污時(shí)間。試驗(yàn)方法及說明
1 ）測(cè)量方法按GB/T26218.1；
2）現(xiàn)場(chǎng)污穢度（SPS）等級(jí)的劃分參照附錄G
試驗(yàn)項(xiàng)目
72.5kV及以上支柱瓷絕緣子超聲波探傷檢查
試驗(yàn)周期
1）必要時(shí)試驗(yàn)結(jié)果判斷依據(jù)
無裂紋和缺陷。
試驗(yàn)方法及說明1）對(duì)多元件組合的整柱絕緣子，應(yīng)對(duì)每元件進(jìn)行檢測(cè)；
2）測(cè)試方法可參考DL/T303。
